Filtr polaryzacyjny B+W MRC Nano XS-PRO 62mm

Najwyższej klasy 16 powłokowy filtr polaryzacyjny B+W MRC XS-PRO z dodatkową powłoką Nano, o doskonałej przepuszczalności światła. Idealny do szerokokątnych obiektywów. Nowa generacja produkcji powlekania szkła stosowana przez firmę B+W udoskonalona została w zaawansowane technologicznie systemy, które umożliwiają uzyskanie powłok twardszych i bardziej wytrzymałych niż tradycyjne. Efektem tej innowacyjnej metody, połączonej z nowoczesnym, sterowanym komputerowo procesem produkcji i restrykcyjną kontrolą czystości, są rewelacyjne powłoki ochronne odporne na wilgoć, kurz i zabrudzenia. Zwiększona twardość filtrów B+W powleczonych MRC sprawia, że są one również bardziej odporne na uszkodzenia mechaniczne. Nowy rodzaj zabezpieczeń gwarantuje najwyższą jakość optyczną, maksymalną redukcję odbić i łatwość czyszczenia filtrów.

Filtry serii MRC (Multi-Resistant Coating) pokryte są wielowarstwowymi powłokami przeciwodblaskowymi, zwiększającymi przepustowość optycznego szkła, z którego wykonany jest filtr. Jednocześnie powłoki chronią filtr przed uszkodzeniami (są twardsze niż szkło) - filtry z powłokami MRC mogą być bez obaw wykorzystywane w trudnych warunkach atmosferycznych, można je także czyścić miękką ściereczką bez obawy uszkodzenia.

Powłoka Nano jest zewnętrzną warstwą ochronną stosowaną standardowo we wszystkich filtrach XS-Pro Digital MRC. Dzięki zastosowaniu nanotechnologii w zewnętrznej warstwie ochronnej filtry odznaczają się mniejszą polaryzacją dla cząsteczek wody i pary wodnej. Dzięki temu wilgoć nie osadza się na powierzchni filtru, a jego czyszczenie jest szybsze niż kiedykolwiek przedtem. Nano MRC posiada ulepszoną zewnętrzną ósmą warstwę.

• Oprawka wykonana z mosiądzu.
• Odporny na wilgoć, kurz, zabrudzenia i zarysowania. Prosty i szybki w czyszczeniu.
• System powłok antyodblaskowych (MRC) z tlenków metali, dzięki którym szkło gwarantuje absolutną neutralność barwową, i zapewnia stuprocentową wierność odwzorowania kolorów.
• Jakość filtru spełnia najbardziej rygorystyczne wojskowe kryteria jakości optycznej.